单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效的检出,这是因为:()

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单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效的检出,这是因为:()

A.近场干扰
B.材质衰减
C.盲区
D.折射
正确答案C
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