《红外热像检测细则》中规定，当缺陷是由两种或两种以上因素引起的，应综合判断缺陷性质。对于( )引起的过热可依据电流致热型设备的判据进行处理。
A.磁场 B.剩磁 C.漏磁 D.偏磁
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