试品绝缘表面脏污、受潮,在试验电压下产生表面泄漏电流,对试品tanδ和C测量结果的影响程度与试品电容量的大小无关。

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试品绝缘表面脏污、受潮,在试验电压下产生表面泄漏电流,对试品tanδ和C测量结果的影响程度与试品电容量的大小无关。

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