试件内部的、光滑的、片状的与探测面垂直的缺陷，能有效发现缺陷的探伤方法是（ ）

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试件内部的、光滑的、片状的与探测面垂直的缺陷，能有效发现缺陷的探伤方法是（ ）

A.串列式探伤
B.斜探头探伤
C.双晶片直射法
D.直探头探伤
E.并列式探伤
正确答案AC
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