用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回波降至屏高的50%，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数为10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB，则

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用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回波降至屏高的50%，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数为10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB，则

A.前一个缺陷大于后一个
B.后一个缺陷大于前一个
C.两者一样大
D.任意
正确答案B
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