当对铜屏蔽层电阻和导体电阻比进行测试,在相同温度下,较上次测量比值应无明显改变,比值增大,可能是( )。
A.可能是附件中的导体连接点的电阻增大 B.无意义 C.需要判断屏蔽层是否出现腐蚀时,或者重做终端或接头后进行本项目 D.屏蔽层出现腐蚀正确答案D
当对铜屏蔽层电阻和导体电阻比进行测试,在相同温度下,较上次测量比值应无明显改变,比值增大,可能是( )。
A.可能是附件中的导体连接点的电阻增大 B.无意义 C.需要判断屏蔽层是否出现腐蚀时,或者重做终端或接头后进行本项目 D.屏蔽层出现腐蚀正确答案D