超声波检验中,选用晶片尺寸大的探头的优点是 ( )。
A.曲面探伤时减少耦合损失 B.减少材质衰减损失 C.辐射声能大且能量集中 D.圆周面探伤时利于耦合
曲面探伤时减少耦合损失
减少材质衰减损失
辐射声能大且能量集中
圆周面探伤时利于耦合
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