现场用电桥测量介质损耗因数,出现-tanδ的主要原因有()。
A.标准电容器CN有损耗,且tanδN>tanδx B.电场干扰 C.试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响 D.空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响
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